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產(chǎn)品名稱:
OTSUKA大塚半導體檢測VR行業(yè)
產(chǎn)品型號:
光學材料檢查設備RETS-100
產(chǎn)品展商:
OTSUKA大塚電子
折扣價格:
0.00 元
關注指數(shù):35
產(chǎn)品文檔:
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光學材料檢查設備RETS-100
OTSUKA大塚半導體檢測VR行業(yè)
的詳細介紹
日本OTSUKA大冢相位差膜?光學材料檢查設備RETS-100 日本OTSUKA大冢相位差膜?光學材料檢查設備RETS-100 日本OTSUKA大冢相位差膜?光學材料檢查設備RETS-100
詳情介紹：
相位差膜?光學材料檢查設備 RETS-100
對應范圍廣，從反射型?透過型type的已封入液晶的cell到帶有彩色濾光片的空cell都可對應
產(chǎn)品信息
特 點
? 采用了偏光光學系和多通道分光檢出器? 有可對應各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學素子到第10代的大型基板? **對策和粒子對策，可對應液晶line內(nèi)的檢查設備
測量項目
? 封入cell gap? twist角? rubbing角? pretilt角［TN,IPS,FFS,MVA］? 空cell gap? 相位差（復折射相位差）的波長分散? 光學軸? 橢圓率/方位角? 三次元折射率/Rth/β? 分光光譜/色度
測量對象
? 液晶cell- 透過、半透過型液晶cell（TFT、TN、STN、IPS、VA、OCB、強感應電）- 反射型液晶cell（TFT、TN、IPS、VA）? 光學材料- 其他（相位差?橢圓?偏光膜、液晶材料）
仕 樣
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型號
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RETS series
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樣品尺寸
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20mm×20mm ～ *
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cell gap測量范圍
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0.1μm ～ 數(shù)10μm
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cell gap重復性
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±0.005μm
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檢出器
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多通道分光光度計
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測量波長范圍
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400nm ～ 800nm
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光學系透過用偏光子unit
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偏光光學系消光比 10-5內(nèi)置Gran-tomson prism（方解石）自動旋轉(zhuǎn)（角度精度0.1°）、自動裝卸機構
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測量口徑
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φ2, φ5, φ10 (mm)
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光軸傾斜機構
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-20 ～ 45°、-45 ～ 45°等
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* 大型玻璃基板也可用（2000mm×2000mm以上）
測量案例
相位差與液晶層間隙值
液晶面內(nèi)分布圖
長期供應 大冢光學OTSUKA RETS-100 日本OTSUKA大冢相位差膜?光學材料檢查設備RETS-100 蘇州市新杉本電子科技有限公司/ 日本大冢OTSUKA 蘇州新杉本直銷/聯(lián)系人陳小姐15250013623