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產(chǎn)品名稱:
橢圓偏光膜厚量測(cè)儀（手動(dòng)）
產(chǎn)品型號(hào):
產(chǎn)品特點(diǎn) 400波長以上多通道分光的橢偏儀，高速量測(cè)橢圓偏光光譜。 自動(dòng)變更反射量測(cè)角度，可得到更詳
產(chǎn)品展商:
OTSUKA大冢光學(xué)
折扣價(jià)格:
0.00 元
關(guān)注指數(shù):575
產(chǎn)品文檔:
無相關(guān)文檔
400波長以上多通道分光的橢偏儀，高速量測(cè)橢圓偏光光譜。
自動(dòng)變更反射量測(cè)角度，可得到更詳細(xì)的薄膜解析數(shù)據(jù)。
采用正弦桿自動(dòng)驅(qū)動(dòng)方式，展現(xiàn)量測(cè)角度變更時(shí)優(yōu)異的移動(dòng)精度。
搭載薄膜分析所需的全角度同時(shí)量測(cè)功能。
可量測(cè)晶圓與金屬表面的光學(xué)常數(shù)(n:折射率、k:消光系數(shù))。
橢圓偏光膜厚量測(cè)儀（手動(dòng)）
的詳細(xì)介紹
產(chǎn)品特點(diǎn)
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400波長以上多通道分光的橢偏儀，高速量測(cè)橢圓偏光光譜。
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自動(dòng)變更反射量測(cè)角度，可得到更詳細(xì)的薄膜解析數(shù)據(jù)。
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采用正弦桿自動(dòng)驅(qū)動(dòng)方式，展現(xiàn)量測(cè)角度變更時(shí)優(yōu)異的移動(dòng)精度。
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搭載薄膜分析所需的全角度同時(shí)量測(cè)功能。
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可量測(cè)晶圓與金屬表面的光學(xué)常數(shù)(n:折射率、k:消光系數(shù))。
量測(cè)項(xiàng)目
產(chǎn)品規(guī)格
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樣品對(duì)應(yīng)尺寸
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100 × 100 mm
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量測(cè)方式
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偏光片元件回轉(zhuǎn)方式
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入射/反射角度范圍
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45 ~ 90°
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入射/反射角度驅(qū)動(dòng)方式
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反射角度可自動(dòng)變更
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波長量測(cè)范圍
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300 ~ 800 nm
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分光元件
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Poly-chrometer
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尺寸
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650(H)× 400(D)× 560(W)mm
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重量
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約50 kg
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